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リモートプラズマクリーナー EM-KLEEN

EM-KLEEN
卓上コントローラ
EM-KLEENトップ画像

★ 特徴

リモートプラズマクリーナー『EM-KLEEN』は、 分離されたプラズマソースとコントローラで構成され、ソースはFE-SEMやXPS、 EPMAなどの 試料チャンバーもしくは試料交換室などに接続されます。 接続された試料チャンバーやチャンバー内の試料をプラズマクリーニングすることで、 高真空装置におけるカーボン系コンタミネーションを予防・除去します。

プラズマソース内で生成された活性酸素ラジカルが、 真空装置付随の ターボ分子ポンプで試料室内に引かれて拡散します(ダウンストリーム)。 残留したハイドロカーボンガス分子とラジカルが化学的に反応 (低温灰化=アッシング)し、 反応による副生成物は真空ポンプで試料室外に 排出されることで、 試料室内をクリーニングします。

● 機能面
  • ターボ分子ポンプ領域で運転可
  • 一般的な高真空チャンバー向け
  • ハイスピードクリーニング
  • プラズマ発光強度センサー内蔵
  • 真空ゲージ内蔵
  • 内部温度センサと冷却ファン
  • 微量金属汚染を低減する構造設計
  • レシピ登録・管理機能
  • オートガス流量制御

● 操作性
  • 自由度の高い取付け
  • オート制御により複雑な調整不要
  • タッチスクリーン式カラーパネル
  • 秀逸なユーザーI/Fデザイン
  • SafeモードとExpertモード
  • 環境に合わせて選べるコントローラ
項目 内容
アプリケーション 一般的な高真空チャンバー向け
主な用途 SEM、TEM、XPS、SIMS、AES
チャンバー 石英ガラスチューブ
プラズマ方式 ICP(Inductively Coupled Plasma)[誘導結合型]
RF出力(@13.56MHz)※1 0~75 W
動作真空度 7 mTorr ~ 1 Torr
真空チャンバー真空度※2 0.1 mTorr ~ 1 Torr(ダウンストリーム側)
真空計 マイクロピラニゲージ内蔵、大気 ~ 1 e- 4 Torr
インピーダンス整合 固定
腐食性ガス 不可
ソースマウント形状 NW / KF40(オプション:CF 2.75”[CF70])
プラズマソースサイズ φ86×168 mm、1 kg
標準コントローラサイズ W 305×D 340×H 200 mm、7 kg
電源 AC 90~250 V、 50/60 Hz、400 W以下

※1 RF出力:日本国内では、初期設定でRF出力を49Wまでに制限しています。
  “高周波利用設備申請書”の届出により、制限を解除し、75Wまで使用可能となります。

※2 真空装置の仕様(特にチャンバーサイズやポンプスピード)やソースの設置個所、使用目的や使用方法により大きく異なります。

オプション

  • EM-KLEENのオプションは以下の通りです。一覧にない仕様はお問い合わせください。
  • ソースマウントをCF 2.75インチ(CF70)へ変更
  • ラックマウントコントローラ
  • 各社SEMポート用NW/KF40アダプター

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