近赤外線カメラ Wildcat+ 1280 U3V
- 高解像度 SWIRイメージング
- コンパクトで実績のあるカメラ設計
- 柔軟な光学マウント・レンズオプション
- 1280×1024 画素
- 検出波長 0.4～1.7 μm
Wildcatシリーズについて
Wildcatシリーズは、プロセス監視、産業用マシンビジョン、医療用途などの産業実装に適しています。高性能カメラは科学用途にも適合します。優れた高解像度SWIR撮像機能を備え、汎用性が高く実績のあるWildcatカメラパッケージ（GenICam準拠）を採用し、オンボード画像処理を提供します。
Wildcat+ 1280 は、レーザー監視、半導体検査、その他の産業用途における高精度検査のための高解像度 SWIR メガピクセルカメラです。
Xenics社について
Xenics（キセニクス）社は、近赤外線素子の開発製造からカメラシステムの製品化まで行う、近赤外線カメラの専業メーカーです。InGaAsセンサーを搭載した 近赤外線エリアカメラ、近赤外線高速ラインスキャンカメラ、最大1700fpsの超高速な近赤外線ハイスピードカメラ、サイエンス用 遠赤外線サーモカメラなど幅広いラインナップの赤外線カメラを取り揃えています。
近赤外線イメージング、遠赤外線イメージング、分光、レーザービームプロファイル、研究開発、非破壊検査、シリコンウェハー/Siインゴット/太陽電池パネル検査、ナイトビジョン、サーモイメージ（熱画像）など幅広い用途に適します。
仕様
| モデル | Wildcat+ 1280 U3V |
|---|---|
| イメージフォーマット [pixels] | 1280 x 1024 |
| ピクセルピッチ [µm] | 5 |
| 素子タイプ | InGaAs |
| センサー温度安定化 | TE cooler |
| 積算タイプ | スナップショット - グローバルシャッター |
| 有効エリア・対角 [mm] | 6.4 x 5.12 [diagonal 8.2] |
| オプティカルフィルファクター | 100% |
| 波長領域 [nm] | 400 - 1700 |
| 量子効率 | ～77% [typical peak value] |
| ゲインモード | シングルゲイン |
| フルウェルキャパシティ [electrons] | 160k |
| 読出ノイズ [electrons] | 200 |
| 暗電流 [electrons/second] | <3k |
| 読出モード | IWR [< 7.5 ms] & ITR |
| Pixel operability | >99.5% |
| Preconfigured 露光時間範囲 [ms] | 0.5 ms & 5 ms & 7.5 ms |
| 最大フレームレート [Hz] [フルフレーム] | 120 |
| 関心領域（ROI） | Yes |
| 最小領域サイズ [pixels] | 4 x 8 [step size 4 pixels in X & 8 pixels in Y] |
| 最大フレームレート [Hz] [最小領域サイズ] | >3 kHz |
| コマンド・制御 | USB 3 Vision |
| デジタル出力フォーマット | USB 3 Vision (16 bit) |
| トリガー | 2 trigger in & 2 trigger out - LVCMOS 3.3 V CameraLink trigger in |
| 寸法 [WxHxL] [mm] [レンズを除く] | 55 x 55 x 91.5 |
| 重量 [g] [レンズを除く] | 385 |
| 光学インターフェース | C-mount or M42 |
| コネクタ USB | USB 3.0 type micro-B |
| コネクタ CameraLink | - |
| コネクタ 電源/トリガー/シリアルコマンド | Lemo 1B.308 (unified connector) |
| 動作周辺温度 [℃] | -40 ～ +70℃ |
| 保管温度 [℃] | -40 ～ +85℃ |
| 消費電力 [W] | <7 |
| 電源電圧 | DC 12 V |
| 衝撃 | 40 g, 11 ms, according to MIL-STD810G |
| 振動 | 5 g [20 to 2000 Hz], according to MIL-STD810G |
アプリケーション
- 近赤外イメージング
- 国境・インフラ監視
- 無人航空機およびシステム
- ライフサイエンス・環境
- メタン・ガス検知
- 消防・火災研究
- 農業観測
- バイオメディカル
- 眼科
- 細胞分析
- 産業用制御
- マシンビジョン
- ビームプロファイル解析
- 半導体検査
- 産業・非破壊検査
