AD Science Inc.

LT14030

LT14030
★ 特徴

Kleindiek社のサブステージは、大気中、SEM/FIB、超高真空(UHV)環境における直交座標位置決めソリューションに適しています。

LT14030は主にSEM/FIB用途で使用され、 標準の顕微鏡ステージの精度および機能性を向上させます。

LT14030は、レーザー干渉計ステージに代わる安価なステージとして設計されています。
本装置は、リソグラフィ、セルカウント、ナノプロービング、故障解析(FA)用途 向けに特化して設計されており、各軸に2つの位置エンコーダを搭載することで、 ヨー誤差(yaw error)の自動補正が可能です。

本ステージは用途に応じて、オープンループ仕様およびレーザー干渉計仕様でも提供されています。 また、三点アライメント用のソフトウェア(オプション)や、Z軸(オプション)も利用可能です。

● 機能面
  • ほとんどのSEM/FIBに取付可能
  • 優れた安定性
  • サブナノ分解能
  • ピエゾ制御
  • 低ドリフト
  • 直交座標移動対応
  • バックラッシュ(逆転時の遊び)なし
  • 単一駆動で粗動と微動を実現
  • 微動+粗動で微動範囲拡張

● 操作性
  • 直感的な制御・操作系
  • 使いやすく、習得が容易
項目 内容
外形寸法(L × W × H)、重量 141 mm × 133 mm × 21 mm、420 g
可動範囲 X= 30 mm、Y= 30 mm、Z= 5 mm(Z軸はオプション)
速度 1 mm/s(最大)
最小ステップサイズ < 0.02 nm
繰り返し精度 100 nm ※
測定分解能 50 nm
角度偏差(単方向) < 10 µrad
許容荷重(Load) 500 g
動作最高真空度 1×10-7 mbar
動作温度 0℃~80℃
サブステージ取付 直径3.2 mm穴 × 4箇所
動作中温度上昇 約55°Cまで上昇
エンコーダー エンコーダー有り
レーザー干渉計搭載 レーザー干渉計搭載バージョン有り

※ 繰り返し精度は、エンコーダーからの作業距離に依存します。 これはサブステージの角度偏差によるものです。


★ モデル
LT14030

サブステージ へ戻る
特   徴 へ戻る


ダウンロード